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有機LED・ポリマー
ダイヤモンドワイヤーソー

高精度小型ダイヤモンドワイヤーソー スタンダードタイプ (LUKUON-V)
- 断面粗さ5µm以内で複合材料も、迷わず切断。 脆弱試料はもちろん、硬質試料にも適した、構造評価前処理に最適なワイヤーソー。スタンダードタイプは、アングルセンサーによる荷重再現機構と、実体顕微鏡によ

高精度小型ダイヤモンドワイヤーソー 微細荷重調整タイプ (LUKUON-H)
- 低荷重×高再現性 脆弱試料に、最適解。 特に、欠けやすい、柔らかい試料に最適なワイヤーソー。微細荷重調整タイプは、超小型設計なので場所を選ばず設置でき、特別な設備環境も不要で、誰でも簡単に使用する

高精度ダイヤモンドワイヤーソー 大型試料タイプ (LUKUON-LS)
- 大型試料でも、微細構造を正確に捉える。 150×150mmまでの大型試料に対応し、脆弱材から硬質材まで幅広く切断可能。ドライ・ウェットの両切断に対応で、構造解析や前処理に最適な環境を提供し、セミオ
エッチング・クリーニング・親水化処理装置

ソフトエッチング装置 (SEDEシリーズ)
親水化やクリーニングをダメージなく処理 PDMSも簡単に接着 高出力モデルが新登場!高効率なドライエッチングが可能に CF4を利用した高出力ドライエッチング SEDE-PHLはCF4ガスを導入し、10
超薄膜測定 エリプソメーター

マルチスペクトル・エリプソメーター(FS-4 / FS-8)
最大8波長に!最新のLED光源で様々なサンプルに対応。高精度かつ簡便なエリプソメトリー解析

マルチスペクトル・エリプソメーター 全自動マッピングシステム(FS-RT300)
8波長の最新LED光源で様々なサンプルに対応 LED光源と特許所得技術で、高精度かつ簡便なエリプソメトリー解析を実現 FS-4 / FS-8が採用するマルチLED光源と特許取得のMWE技術 特許取得(
局在表面プラズモン共鳴解析システム(測定チャンバー/センサー)

QCM-D同時測定仕様(Acoulyte)
LSPR + QCM-D同時測定仕様複雑な気液・固液界面を解明する新技術 同じサンプルをQCM-D+LSPRで計測・解析することで、複雑な表面や薄膜プロセスを解明で きます。同じ基材に吸着するサンプル

局在表面プラズモン共鳴解析システム(XNanoⅡ・X1)
超高感度センサーの開発に成功! SPR、QCMでは見られなかった超低分子挙動解析 局在表面プラズモン共鳴(LSPR)を応用した、ナノサイズマテリアルの新しい解析アプローチ SPRは金属表面における自

局在表面プラズモン共鳴解析システム(S2)
分子相互作用や表面吸着イベント標識を使用しないinsitu研究のためのデュアルチャンネルフローセルを備えたシステム デュアルチャンネルフローセルでラベルフリーの分子相互作用を解析 Insplorion
コーティング装置

圧力可変電子染色デバイス(VPES-25)
~ OsO₄・RuO₄ を自動制御。高精度な電子染色を安全に実現~ VPES-25はOsO₄とRuO₄を使用した安全な電子染色装置です。電子染色法はプラスチック等に結合し、SEM画像でコントラストを得

オスミウムコーティングシステム(Tennant20)
より安全に、使いやすさを追求した、新型オスミウムコーティングシステム 「Neoc-Pro」は「Tennant 20(テナント20)」へ メイワフォーシスは1997年に独自に開発した放電電極を採用

ネオオスミウムコータ (Neoc-Pro/P)
チャージアップのないアモルファス導電被膜を形成 プラズマCVDガス蒸着で、複雑構造試料もチャージ無く観察 Neocでは純粋なオスミウム金属被膜を製膜するために、プラズマCVD成膜法を採用。 プラズマC

カーボンコータ(CADE)
蒸着源は超高純度(99.995%)カーボンファイバーでSEM観察、EDS分析、FIB保護膜など各種分析に最適

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