QCM-D同時測定仕様(Acoulyte)

LSPR + QCM-D同時測定仕様
複雑な気液・固液界面を解明する新技術

同じサンプルをQCM-D+LSPRで計測・解析することで、複雑な表面や薄膜プロセスを解明で きます。同じ基材に吸着するサンプル Wet Mass とDry Mass 、粘弾性の変化をリアルタイムで計測可能です。

QCM-D + LSPR 技術

局在表面プラズモン共鳴(LSPR)
ナノ構造センサーの局在表面プラズモン共鳴(LSPR)を使用して、センサー表面近傍(30nm未満)の屈折率の微小変化(Dry Mass) を計測します。これにより、センサー表面の界面情報を極めて敏感に検出することができます。

Q-Sense QCM-D 技術
QCM-Dはセンサー表面層の「質量変化」 だけではなく、「粘性(kg/ms)」、「弾性(Pa)」、「膜厚(m)」を定量算出できる世界で唯一のシステムです。 従来QCM装置では解読できない「構造変化」を定量化し解析できます。

リアルタイムで質量、粘弾性、屈折率変化を計測

吸脱着による構造変化の解析

同時計測により、分子吸着時の構造変化と含水率(含有溶媒)の変化の計測が可能になります。

脂質2重膜の形成プロセス解明

極薄膜の脂質膜の形成プロセスをより詳細に解析します。

薄膜への吸脱着と浸透を解明

アプリケーション例:高分子、ハイドロゲル
膜(~1mm)からの分子の吸脱着の時間、及び浸透(深さ方向)の解析ができ、吸脱着時の膨潤を分けて解析可能です。

ガス吸脱着と浸透を解明

アプリケーション例:
金属有機構造体(MOF)、高分子、ハイドロゲル、多孔質ポリマー膜

センサー表面にコートした薄膜へのガスの浸透と拡散時間、浸透メカニズムを解明します。

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