同じサンプルをQCM-D＋LSPRで計測・解析することで、複雑な表面や薄膜プロセスを解明で きます。同じ基材に吸着するサンプル Wet Mass とDry Mass 、粘弾性の変化をリアルタイムで計測可能です。

局在表面プラズモン共鳴（LSPR）
ナノ構造センサーの局在表面プラズモン共鳴（LSPR）を使用して、センサー表面近傍（30nm未満）の屈折率の微小変化（Dry Mass） を計測します。これにより、センサー表面の界面情報を極めて敏感に検出することができます。

Q-Sense QCM-D 技術
QCM-Dはセンサー表面層の「質量変化」 だけではなく、「粘性(kg/ms)」、「弾性(Pa)」、「膜厚(m)」を定量算出できるシステムです。 従来QCM装置では解読できない「構造変化」を定量化し解析できます。

同時計測により、分子吸着時の構造変化と含水率（含有溶媒）の変化の計測が可能になります。

極薄膜の脂質膜の形成プロセスをより詳細に解析します。

アプリケーション例：高分子、ハイドロゲル
膜（～1mm）からの分子の吸脱着の時間、及び浸透（深さ方向）の解析ができ、吸脱着時の膨潤を分けて解析可能です。

アプリケーション例：
金属有機構造体(MOF)、高分子、ハイドロゲル、多孔質ポリマー膜
センサー表面にコートした薄膜へのガスの浸透と拡散時間、浸透メカニズムを解明します。