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観察前処理装置 選定サポート
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観察前処理用コーティング装置
圧力可変電子染色デバイス(VPES-25)
高分子ポリマーをはじめ様々な試料の観察において、高コントラストな電子顕微鏡像を取得。 差圧環境下で染色 電子染色の試薬は直接曝露しないよう注意が必要です。VPES-25は差圧ダブルチャンバー、インター
オスミウムコーティングシステム(Tennant20)
より安全に、使いやすさを追求した、新型オスミウムコーティングシステム 「Neoc-Pro」は「Tennant 20（テナント20）」へ メイワフォーシスは1997年に独自に開発した放電電極を採用
ネオオスミウムコータ (Neoc-Pro/P)
チャージアップのないアモルファス導電被膜を形成 プラズマCVDガス蒸着で、複雑構造試料もチャージ無く観察 Neocでは純粋なオスミウム金属被膜を製膜するために、プラズマCVD成膜法を採用。 プラズマC
カーボンコータ(CADE)
蒸着源は超高純度(99.995%)カーボンファイバーでSEM観察、EDS分析、FIB保護膜など各種分析に最適
その他コーティング装置を探す
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SBF-SEM観察
SBF-SEMとは？
高解像度の三次元画像を再現できる装置 シリアルブロックフェイスSEM（SBF-SEM）とは、生体標本を高解像度で大量の 3 次元再構成を生成できる、体積電子顕微鏡技術です。SBF-SEM は、連続層の
ブロックフェースイメージングユニット Katana
SEMをSBF-SEMに。SEMの真空チャンバー内に収まるように設計されており、通常SEMに搭載することでSBF-SEM観察を⾏うことが可能な ウルトラミクロトームです。
電子顕微鏡試料用加工切断装置
ティッシュ・チョッパー(ML-100)
ダメージのない生きたスライスを得ることができます
ディンプリング・マシン (TDP84000)
TEM用試料に滑らかな半球状のくぼみ（ディンプリング技法）をつけることにより、イオンシニング時間の短縮ができます。 ホイールの種類はダイヤモンド、ステンレス、真鍮、フェルト等でサイズも揃っており、用途
デルタナイフ
光学顕微鏡用準超薄切片作製、電子顕微鏡用試料の面出し、硬組織／材料系試料など硬いものの切削に ミクロトームに装着して使用することにより、樹脂ブロックの準超薄切片の切削ができます ヒストダイヤモンドナイ
観察前処理関連製品
有害物質除去システム（BF100R）
３段階フィルターで微細な粉塵を確実に防ぎます 0.1~0.3μの小さな 粉じんも 99.995% 確実に回収します。 大容量活性炭フィルター及びHEPAフィルターでより安全性を考慮したシステムとなって
