オプション
自動マッピング
FS-RT300 自動膜厚マッピングモデル
自動測定&解析で迅速な膜厚マッピングが可能!FS-8マルチスペクトル・エリプソメーターとコンパクトなマッピングステージを組み合わせて、 ウェーハ前面を迅速かつ正確で信頼性の高い膜厚測定を実現します。 電動ステージとFilmSenseソフトウェアを組み合わせることで、膜厚の等高線図を自動で得ることが可能です。
典型的な膜厚の再現性:0.015 nm、サンプルオートアライメントの電動Zステージ搭載、膜厚等の各パラメータの等高線図が得られます。
FS-RT300 自動膜厚マッピングモデル 製品紹介
強力な新しいエリプソメトリック特性評価
FS-LC 液体セル
10nm以下の極薄膜の光学定数 (n&k)と膜厚(t)を測定
エリプソメーターでは、各波長に対しプサイ(Ψ)とデルタ(Δ)の2つのパラメータしか測定できませんが、解析では屈折率 (n)、消衰係数(k)、膜厚(t)の3つのパラメータが必要です。従来は、同じ材料で膜厚が異なる複数のサンプルをマルチサンプル解析していますが、「液体セル」を使用することで、1つのサンプルでも「大気環境」と「溶液環境」の2環境条件でマルチサンプル解析をすることができるようになりました。
特に非常に薄い膜では、膜厚と屈折率が相関することは良く知られていますが、空気と溶液中のエリプソメトリー測定を組み合わせることで、この相関関係を解消することができ、非常に薄い膜でも正確な屈折率決定が可能となります。
ホワイトペーパー
液体セルを利用した薄膜計測
マルチスペクトルエリプソメーターの液体セルの性能と機能について紹介しています。液体セルを用いたアプリケーションは他にもありますが、このホワイトペーパーでは以下の2つの古典的なエリプソメトリック測定の問題に焦点を当てます。
1.10nm未満の透明膜の膜厚と屈折率の測定
2.吸収薄膜の膜厚とn&kの決定
Siウエハー上の自然酸化膜とTiN膜の測定事例と合わせてご紹介致します。
in situ測定
FS-IS-AA in situ測定用自動アライメントアダプターシステム
in situ測定時のビームセンタリングが10秒で完了
in situ測定時のビームアライメントは、大型のプロセスチャンバーやサンプルに反射光を「見る」ための光学アクセスが限られるチャンバーでは、難しい場合がありました。
新製品のin situ測定用自動アライメントシステムはビームの位置が決まるまでステージを自動で傾斜して探索します。
・10秒で光学経路調整と校正を自動で実行
・最大±4.5°で傾斜調整を実現
標準で1.33インチまたは2.75インチのコンフラットフランジに取り付け可能です。使用にはまた第3世代以降のエリプソメーターが必要となります。
Auto-Align in situ測定
紹介動画
in situ測定用自動アライメントアダプターシステム (光源側)
in situ測定用自動アライメントアダプターシステム (検出器側)
FS-IS1 in situアダプター
- 光源と検出機器の設置アダプター
- 標準で2.75”または1.33″のコンフラット真空フランジに接続可能
- 光軸の位置合わせ用チルトステージ調節が容易に可能
※上記画像には、in situ小型試料アライメント(FS-DT)が含まれております。
様々なサンプル計測に
FS-F27 フォーカスレンズセット
フォーカスレンズを使用することで、サンプル上の照射サイズを0.55×1.3mmまたは、0.25×0.55mmから選択できます。
(ピンホール設定)
FS-1&QCM同時測定事例(溶液中)
別途、液中チャンバーをご用意いただくことで溶液中での測定にも対応します。上図はQCMシステムとドッキングさせて、1つのサンプル(デキストランの堆積)をQCMとエリプソの2手法で測定した事例です。