三ツワフロンテック社主催「表面観察・分析セミナー」にて講演(1/22 13:30～)

電子顕微鏡観察のための最新前処理ソリューションを紹介

2026年1月22日（木）に開催される株式会社三ツワフロンテック主催のオンラインセミナー「表面観察・分析セミナー～観察の前処理～」において、当社カスタマーサクセスLABグループより電子顕微鏡観察における前処理技術について講演いたします。

本セミナーは、複合材料・電池材料・電子デバイスなど多様な材料分野における前処理技術の最新動向を紹介するもので、当社からは、 LUKUON（高精度小型ダイヤモンドワイヤーソー）、Tennant20（オスミウムコーター）、VPES-25(圧力可変電子染色デバイス)、CADE（カーボンコーター）、katana(ブロックフェースイメージングユニット) など、前処理工程を支える各種ソリューションについて解説します。

また、共同開催企業である株式会社日立ハイテクからは、イオンミリング装置を活用した平面・断面試料作製のポイントについて紹介され、電子顕微鏡観察における前処理技術を多角的に学べる内容となっています。

皆さまの研究・開発に役立つ情報をお届けできるセミナーとなっておりますので、ご参加をお待ちしております。

開催概要

表面観察・分析セミナー ～観察の前処理～

【日時】 2026年1月22日（木）13:30～15:00（入場 13:15～）

【形式】 オンライン　Microsoft Teams

【定員】100名

【参加費】無料

【主催】　株式会社三ツワフロンテック

【共同開催】株式会社日立ハイテク、メイワフォーシス株式会社

プログラム

13:35～14:25　「電子顕微鏡観察のための前処理法について」

複合材料、電池材料、電子デバイスなどを対象とした前処理技術を紹介。
新開発の圧力可変電子染色デバイス、小型ダイヤモンドワイヤーソーをはじめ、材料内部構造の高精度な断面作製からSEM観察まで、最新の前処理ソリューションを提案します。

講師：メイワフォーシス株式会社（重原、浦瀧）

14:25～14:55　「イオンミリング装置の活用術 ～平面・断面試料作製のコツ～」

Arイオンビームを用いた応力レス加工による前処理技術について、平面・断面ミリングの原理や試料作製のポイント、SEM観察・分析での活用事例を紹介します。

講師：株式会社日立ハイテク（埜嵜様）