再現性の高いマニュアル研磨を実現

・マイクロメーターを実装しており、研磨量の調整が可能。

・金属試料、単結晶ウェハー、電子材料、ガラス、岩石試料、
その他材料高度な研磨面を作成することが可能。

・ご用途にあう豊富なジグラインナップがございます。

・最大で直径25mm、高さ13mmまでの試料に対応します。

・マイクロメータにより25μmの研磨量調整が可能です。

・分析試料の断面仕上げに最適です。

・直径13mm、高さ13mmまでの試料に対応しております。

・マイクロメータにより25μmの研磨量調整が可能です。

・分析試料の断面仕上げに最適です。

・直径13mmの試料に対応しております。

・0.025～0.508mmのシムが付属しています。

・試料ホルダーはマグネット式のため脱着が簡単です。

・TEM試料作成に最適です。

• メモリ25μm、1周500μmのマイクロメーターにより、
  研磨サンプルの厚みを調節
• 水平に研磨するだけではなく、研磨角度を 0.25°、0.5°、1.0°、10°、20°、30°、45°、60°、90°に調節可能
• TDP900小型試料研磨装置との併用で研磨時間が大幅短縮
• サンプルサイズ・用途・金額に応じて様々なタイプをお選び頂けます