【FE-SEM新規導入】前処理から最終評価までワンストップで可能に
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この度、メイワフォーシス株式会社テクノロジーラボに、最新鋭のFE-SEM(電界放出型走査型電子顕微鏡)を導入いたしました。この導入により、電子顕微鏡の前処理から最終評価まで、全て当社のラボ内で行うことが可能となりました。
FE-SEMの導入により解像度の高い製品評価を行っていただけます
- ブロックフェースイメージングユニット(Katana)のデモ・評価
実際にFE-SEMに設置し、Katanaの性能を評価いただけます。 - オスミウムコーター等コーティング装置の性能評価
高精度コーティングの実演と評価を、その場で迅速に行うことが可能です。
デモンストレーション開始のお知らせ
混み合うことが予想されますので、ご希望の日程がございましたら、お早めにお申し込みをお願いいたします。
また、ご使用サンプルなどでご不明な点がございましたら、下記ボタンのフォームよりお気軽にご相談ください。
SEMに一次元を追加し3D走査型電子顕微鏡観察を
ブロックフェースイメージングユニット (Katana)
Katanaは、ユニットをSEMの試料室に設置することで、通常のSEMでシリアルブロックフェイスSEM観察を行うことを可能にする、ウルトラミクロトームユニットです。
チャージアップのない薄膜を形成し、粒状性のない高倍率観察を可能に
オスミウムコーティングシステム (Tennant20)
Tennant20は、導電性の良い純粋オスミウム膜を均一に成膜することができるため、高倍率でもチャージアップすることなく、粒状性のない鮮明な画像を取得できます。
テクノロジーラボのご案内
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ぜひ、多くの皆様にご利用いただけますと幸いです。
何卒、よろしくお願いいたします。