第9回北海道大学『微小部・表面分析研究 ユーザーズミーティング』にて当社の電子顕微鏡前処理装置を紹介します

＜ユーザーズ講演＞
10:35～10:50　　「CO₂メタネーション用Ni触媒にAg₂CO₃を混合した際の効果と表面状態の変化」
　　　　　　　　　　北海道大学大学院総合化学院　修士　１年　竹内 航平 様

10:50～11:05　　「EBSD法によるTi₃SiC₂の結晶配向評価と変形挙動解析」
　　　　　　　　　　北海道大学大学院工学研究院　博士　１年　清 英一 様

＜テクニカル講演 1＞
11:05～12:00　　「ナノマテリアルにおける電子顕微鏡前処理技術の進化
　　　　　　　　　　－最新断面加工装置による観察事例の紹介－」
　　　　　　　　　　メイワフォーシス株式会社　古瀬 光明

昼休憩（12:00～13:00）　———————————-

＜ユーザーズ招待講演＞
13:00～13:40　　「ARIM微細加工／分析装置によって加速する核融合材料・光学材料研究」
　　　　　　　　　　自然科学研究機構　核融合科学研究所・准教授 上原 日和 先生

＜テクニカル講演 2＞
13:40～14:25　　「EPMA-SXES(軟X線発光分光器)の御紹介－基本原理と活用事例－」
　　　　　　　　　　日本電子株式会社　高倉 優 氏

休憩（15分間）　 　　　 ———————————-

14:40～15:15　　「EDSの基礎と定量分析のコツ」(オンライン)
　　　　　　　　　　日本電子株式会社　溜池 あかね 氏

15:15～16:10　　「TEMの原理からJEM-ARM200F NEOARMの特長まで」(オンライン)
　　　　　　　　　　日本電子株式会社　遠藤 徳明 氏

休憩（15分間） 　　　 ———————————-

16:25～17:00　　「オージェ電子分光法の基礎とアプリケーション」
　　　　　　　　　　日本電子株式会社　鍋島 冬樹 氏