日本顕微鏡学会第81回学術講演会へ出展&ランチョンセミナー開催!(6/9~6/11)
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日本顕微鏡学会第81回学術講演会へ出展・ランチョンセミナーを開催いたします。
ご来場の際には、弊社ブースにお立ち寄り頂ければ幸いです。
ランチョンセミナー概要
招待講演
演題:「機能性材料の電子顕微鏡観察を革新する前処理技術とSBF-SEMの新展開」
講演者:三井金属鉱業株式会社 基礎評価研究所 和田 充弘 様
三井金属鉱業株式会社様の製品に関する機能性材料の機能発現メカニズムを解明するために、電子顕微鏡評価解析技術を最大限に活用するための最先端の前処理技術とSBF-SEM法の革新的アプローチ、およびその実践例を紹介します。
SEMの前処理装置紹介
座長:メイワフォーシス 株式会社 セールスプロモーション部 矢代 将栄
装置紹介パートでは、弊社の矢代より、SEMの前処理装置についてご紹介します。
電子染色の必要性や原理について解説するとともに、 新たな加圧電子染色技術を採用した新製品「VPES-25 圧力可変電子染色デバイス」についての提案と使用事例をご紹介します。
<紹介装置>
・圧力可変電子染色デバイス(VPES-25)
自動で安全な電子染色を可能にします
・オスミウムコーティングシステム (Tennant20)
より安全に使いやすさを追求したオスミウムコーター
・ブロックフェースイメージングユニット (Katana)
通常SEMに搭載することでSBF-SEM観察を可能に
・多機能ダイヤモンドワイヤーソー(DWS 3500)
断面粗さは5μm以内、大幅な処理工程の時間を短縮
ランチョンセミナー詳細
セッション名 :ランチョンセミナー11
会 場 :F会場(409・410)
日 時 :6月10日(火) 12:00~12:50
お申込方法 :下記お申込ボタンより、お申込ください。
会場マップ

展示会概要
会期 :2025年6月9日(月)~11日(水)
会場 :福岡国際会議場 (〒812-0032 福岡県福岡市博多区石城町2-1)
小間番号:2階多目的ホール 小間番号1
▶開催概要詳細(日本顕微鏡学会サイト) https://conference.wdc-jp.com/microscopy/conf2025/