オプション

試料特性に応じた多彩な固定方法

CP・イオンミリング処理専用ホルダー

専用ホルダーで切断後、CP・イオンミリングホルダーへの固定を行い、処理工程にスムーズに進めることができます。
※お手持ちのCP・ミリングホルダー向けにカスタム可能です。

(左)日本電子社製
クロスセクションポリッシャー専用ホルダー
(右)日立ハイテク社製
イオンミリング専用ホルダー

3軸ゴニオメーター(3000.35)

3軸ゴニオメーターも搭載できます。結晶方位解析、X線解析など、結晶方位を決めて切断ができます。

三段式クランプホルダー(M-WELL2)

薄板状、円柱、その他異形サンプルも、カスタム可能なホルダーで固定ができます。

ダブルバイスホルダー(3200.25)

WAXなどで固定したくない試料に最適なホルダーです。
試料を両端で挟み込んで固定します。

熱や有機溶剤を使えない試料には
テープ固定も対応

安全カバーシステム

オンデマンド安全カバー製作
安全基準に合わせた仕様で作業を実現。

現場の安全対策を確実にサポート

左右引戸式・開閉式・ゲートロック式など、多様な構造に対応し、作業性と安全性を両立した仕様をご提案可能です。

制御BOXや安全装置との連動、排気アダプタや状態表示灯などのオプション追加にも対応。
既存装置への後付けや仕様変更にも柔軟に対応します。
ゲートロックやインターロック仕様、シグナルタワー追加等も対応可能。
お客様の安全基準に沿って設計いたします。
作業性を損なうことなく安全を担保できる、ワイヤー周りだけを覆う簡易カバーもご用意しております。

型 式 品 名
WB-3500C 安全カバーシステム(安全装置付き)
WB-DDS 3500安全カバー 左右引戸+制御BOX
WB-SO 3500安全カバー 左右開閉+制御BOX
WB-3500G 3500 ゲートロック式カバー+制御BOX
OPT35-01 TBH排気アダプタ φ56 追加
OPT35-02 M-SCOPE アイピース追加
OPT35-03 状態表示 RYG パトランプ φ50 追加
WB-3400C 簡易安全カバーシステム
WB-3400 3400 安全カバー
WB-3400G DWS3400 ゲートロック安全BOX
OPT34G-01 TBH排気アダプタ φ56 追加

オプション一覧

排気集塵機オプション

HEPAフィルターおよび大容量活性炭フィルターを完備。
乾式切断時に出る切断くずの粉塵をポンプで吸収し、
0.1~0.3μmの小さな粉塵も、99.995%で確実に吸収・回収します。

グローブボックス内で使用可能

電源投入時の内部スパークの発生が無いため、グローブボックスを用いた 大気非曝露環境での切断が可能です。
リチウム電池材料や半導体ウエハーなど、酸素や水分に触れさせられない試料にも適しています。
LUKUON-H/LUKUON-Vは、いずれもグローブボックス内切断での導入実績あります。

型 式 品 名
3008.05ワイヤー巻き取りユニット
3008.5ヒーティングプレート 220V
3200.8ラックアンドピニオン式ホルダー
3200.95顕微鏡用マウントホルダー
3000.45顕微鏡用マウントホルダー(LUKUON-H/3400用)
DM-SCOPEデジタルマイクロスコープシステム(LUKUON-V用)
DM-SCOPE/Yデジタルマイクロスコープシステム(LUKUON-H用)
DM-SCOPE/LVディスプレイ式マイクロスコープシステム(LUKUON-V用)
DM-SCOPE/LHディスプレイ式マイクロスコープシステム(LUKUON-H用)
M-SCOPE顕微鏡システム(LUKUON-V用)
M-SCOPE/Y顕微鏡システム(LUKUON-H用)
3000.45顕微鏡用マウントホルダー(LUKUON-H用)
3200.811軸ゴニオメーターヘッド
3000.32軸ゴニオメーターヘッド
3000.353軸ゴニオメーターヘッド
M-WELLスリット付バイスホルダー(3241用)
M-WELL23段式サンプルホルダー
M-HITAIM4000イオンミリング専用ホルダー(日立ハイテク製)
M-JEOLIB-09010クロスセクションポリッシャー専用ホルダー(JEOL製)
3200.413200.40用 セラミックスプレート 5枚入
WHSZ20X-H接眼レンズ
110AL1.5X実体顕微鏡用対物レンズ
CHW306-3500タッチパネルスクリーン(LUKUON-V用)
CHW306-3400タッチパネルスクリーン(LUKUON-H用)
3200スタンダード テーブル
3200.01グルーブド テーブル
46.10.020マイクロメーター テーブル 0–25㎜
3200.1サンプルホルダー用マウント
3200.1190°カット用トランジションピース
3200.15ティルト テーブル
3200.95バーチカルバイス
3200.21バーチカルバイス用アルミディスク
3200.25ディバイディング アタッチメント 90°
3200.263200.25用 サンプルホルダー φ75㎜
3200.273200.25用 サンプルホルダー φ100㎜
3200.5ラウンドサンプル用バイス(φ12/32㎜)
3200.65スタンダードホルダー
3200.25ダブルバイスホルダー
3200.40サンプルホルダー
64,10,060試料固定用ベースプレート(2個)(LUKUON-LS用)
64,10,080L字型固定プレート(LUKUON-LS用)
64,10,110ガイドテーブル(LUKUON-LS用)
64,10,090試料固定用ジグ(3個)(LUKUON-LS用)
64.10.3900–32mm 固定ジグ(LUKUON-LS用)
64.10.4000–65mm 固定ジグ(LUKUON-LS用)
64.10.4100–130mm 固定ジグ(LUKUON-LS用)
64,10,100マイクロメーター 0–25㎜(LUKUON-LS用)
64,10,14090°固定テーブル(LUKUON-LS用)
64,10,160デジタルマイクロメーター 0–100㎜(LUKUON-LS用)
3000.65スタンダードホルダー(LUKUON-LS用)
65.10.400デジタルマイクロスコープシステム(LUKUON-LS用)
45.10.030試料固定クランプ フルセット(LUKUON-LS用)
64,10,230空ドラム φ158㎜(LUKUON-LS用)

オプション一覧(LS用)

型 式 品 名
64,10,060試料固定用ベースプレート(2個)
64,10,080L字型固定プレート
64,10,110ガイドテーブル
64,10,090試料固定用ジグ(3個)
64.10.3900–32mm 固定ジグ
64.10.4000–65mm 固定ジグ
64.10.4100–130mm 固定ジグ
64,10,100マイクロメーター 0–25㎜
64,10,14090° 固定テーブル
64,10,160デジタルマイクロメーター 0–100㎜
46.10.020マイクロメーターテーブル 0–25㎜
3000.65スタンダードホルダー
65.10.400デジタルマイクロスコープシステム
45.10.030試料固定クランプ フルセット
64,10,230空ドラム φ158㎜

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